| 구 분 | 세부 공격 방법 |
|---|---|
| 파괴적 공격 | 프로빙 (Probing) |
| 마이크로 프로빙 (Microprobing) | |
| 인터페이스 프로빙: JTAG, UART, SPI, I2C 등 디버깅 및 통신 포트에 분석 장비 연결 | |
| 기계적 제거 (Mechanical Removal) | |
| 비파괴적 공격 | 광학 현미경 (Optical Microscopy) |
| 주사 전자 현미경 (Scanning Electron Microscopy, SEM) | |
| 집속 이온 빔 (Focused Ion Beam, FIB) | |
| X-선 단층 촬영 (X-ray Computed Tomography, XCT) | |
| 자외선 광자 방출 현미경 (UV Photon Emission Microscopy, PEM) | |
| 적외선 현미경 (Infrared Microscopy) | |
| 전력 및 전자파 분석 |