표 4. | Table 4. 총 게이트 너비 28 mm 소자를 이용한 제품적합성 시험 항목과 그 결과 | Using a device with a total gate width of 28 mm Product suitability test items and results

시험	내용	조건	결과	참고자료
TC	Temperature Cycling	T_low=−55 °C, T_high=150 °C, 25 ea, 1000 cycles	Pass	JESD22-A104-D
ESD-HBM	Human Body Model	Electro-Static Discharge Test, 3ea	Class 2 (2000V)	JESD22-A114-F
ESD-CDM	Charge Device Model	Electro-Static Discharge Test, 3ea	Class III (500V)	JESD22-C101-F
HTST	High Temp. Storage Test	200 °C, 72h, 25 ea	No Fail	JESD22-A103-E
HTOL	High Temp. Operating Life	V_D=50V, Tcase=85 °C, 78 ea, 1000h	No Fail	JESD22-A108-F